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首頁 > 產(chǎn)品方案> 射頻有/無源器件> 測試探針

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測試探針

XQY-SMAK-TTD115CZ

【產(chǎn)品名稱】測試探針

【外殼材質(zhì)】黃銅鍍金

【測試類型】多點焊盤

【頻率范圍】DC-8.5GHz

【外形尺寸】24.8*16*6mm

【定制服務(wù)】特殊尺寸、接頭類型、材質(zhì)、頻率范圍均可定制

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應(yīng)用領(lǐng)域

應(yīng)用于半導(dǎo)體、通信、航空航天、汽車電子及醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域的高頻信號測試與性能驗證。