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        0755-23345158
        測(cè)試探針

        XQY-SMAK-TTD115JZ

        【產(chǎn)品名稱】測(cè)試探針

        【外殼材質(zhì)】黃銅鍍金

        【測(cè)試類型】多點(diǎn)焊盤

        【頻率范圍】DC-8.5GHz

        【外形尺寸】24.8*16*6mm

        【定制服務(wù)】特殊尺寸、接頭類型、材質(zhì)、頻率范圍均可定制



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        • 應(yīng)用領(lǐng)域

          應(yīng)用于半導(dǎo)體、通信、航空航天、汽車電子及醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域的高頻信號(hào)測(cè)試與性能驗(yàn)證。